Knengwell-前裝式雙晶控傳感器
Knengwell 前裝式雙晶體傳感器，攜經實踐長…
Knengwell
陜西柯能威爾科技有限公司
以尖端制造賦能工業
高性能機械、專業工程和可擴展的解決方案
為每件產品提供卓越的工業品質。
我們的核心服務
我們的產品覆蓋標準款與定制款，適配各類真空鍍膜及薄膜沉積系統
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Knengwell-6點位氣動晶控探頭
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Knengwell-石英晶體監測儀（QCM）晶控傳感器饋入件(穿透件）
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Knengwell-KN-G6旋轉式晶控傳感器
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陜西柯能威爾科技有限公司——Knengwell
我們希望為您提供最好的服務
為暖通空調/制冷 工業制造 真空鍍膜 半導體IDM和晶圓代工廠 半導體設備制造商 醫藥和醫療 移動和汽車 研究與學術界分析儀器 電池制造提供高品質的各種晶體傳感器
保證品質
指通過建立標準、流程和檢驗機制，確保產品或服務在設計、生產、交付等環節始終符合預定的質量要求.
優質服務
在服務過程中，通過專業的態度、高效的響應、貼心的細節等，超出客戶基本預期，滿足其核心需求甚至潛在需求的服務模式.
應用場景
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常見問題解答
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通過使用Knengwell的薄膜計量設備，制造商可以完全控制薄膜沉積過程。這些精密測量工具旨在保持精確性和一致性，這對于半導體、光學和先進材料等領域至關重要。QCM技術的整合確保即使是最精細的薄膜也能達到嚴格的標準。
在鍍膜過程中，膜厚讀數有大的跳動
1. 由于晶振片損壞，模式跳躍
2. 膜料應力大導致所鍍膜層從晶振片表面剝離，翹層。
3. 來自蒸發源（坩堝）的微顆粒或“濺物”，“雜質”打擊到晶振片。
4. 晶振片的基座（探頭帽）的表面有小顆粒或有外來微粒（基座不正常）。
5. 小塊材料落在晶振片上（晶振片一面是面向蒸發源的）
晶體不振蕩或間歇振蕩（在真空或大氣中）
1. 彈片與晶振片之間間歇接觸或接觸不良（接觸點氧化）。
2. 彈片已經失去彈力，變形，或斷腳現象，以及彈片與陶瓷圈之間松動。
3. 來自蒸發源的 RF 干擾。
4. 電纜 / 振蕩器沒有連接好，或者連接到錯誤的傳感器輸入端。
晶體中大氣中振蕩，但在真空中停止振蕩
1. 該現象為探頭基座 ( 單探頭，多探頭一樣 ) 內部接觸彈片變形，斷裂，或者接觸不良，不是晶振片不良。
2. 離子源中和未調節好，導致過量的帶電離子瞬間擊穿晶振片，在晶振片表面形成點擊花紋。
雙晶體或多晶體轉換問題（不轉換或不對準孔徑中心）
1. 無氣源，或氣動壓力不足
2. 鍍膜材料聚集在蓋上，使操作受阻
3. 準直不正確 ( 主要為多探頭 )
4. 0.0225’直徑小孔未安裝于電磁閥的供氣一側 ( 主要為多探頭 )
終止鍍膜后，膜厚有大的偏離
1. 由于熱接觸差，晶體被加熱
2. 外磁場干擾傳感器的磁場，如離子源
3. 晶振片子鍍膜過程中出現了負跳現象
